SYMPOSIUM ON ADHESION MEASUREMENT OF THIN-FILMS, THICK-FILMS, AND BULK COATINGS HELD IN PHILADELPHIA, NOVEMBER 2-4, 1976

被引:1
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作者
MITTAL, KL [1 ]
机构
[1] IBM CORP,POUGHKEEPSIE,NY 12602
来源
MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING | 1977年 / 28卷 / 01期
关键词
D O I
10.1016/0025-5416(77)90101-X
中图分类号
T [工业技术];
学科分类号
08 ;
摘要
引用
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页数:1
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