THE RESOLUTION OF THE LOW-ENERGY ELECTRON REFLECTION MICROSCOPE

被引：156
作者：
BAUER, E
机构：
来源：
ULTRAMICROSCOPY | 1985年 / 17卷 / 01期
关键词：
D O I：
10.1016/0304-3991(85)90176-7
中图分类号：
TH742 [显微镜];
学科分类号：
摘要：
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页码：51 / 56
页数：6
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[1]  
BARTZ G, 1960, OPTIK, V17, P135
[2]  
BARTZ G, 1958, P INT K ELEKTRONENMI, V1, P201
[3]  
BAUER E, 1964, J APPL PHYS, V35, P3079
[4]  
Bauer E., 1962, 5 INT C EL MICR PHIL, pD11
[5]  
BAUER E, 1965, C INT CNRS, V152, P21
[6]  
BAUER E, 1975, DECHEMA MONOGRAPHIE, V78, P23
[7]   INVESTIGATION OF ULTRA-THIN AG FILMS ON NI WITH THE PHOTOELECTRON EMISSION MICROSCOPE [J].
BETHGE, H ;
KRAJEWSKI, T ;
LICHTENBERGER, O .
ULTRAMICROSCOPY, 1985, 17 (01) :21-30
[8]  
Bruche E, 1932, PHYS Z, V33, P898
[9]  
Bruche E, 1932, NATURWISSENSCHAFTEN, V20, P353
[10]  
BRUCHE E, 1932, ANN PHYSIK, V78, P17
123