COMPLEX REFLECTIVITY AND REFRACTIVE-INDEX PROFILES FROM REFLECTIVITY MAGNITUDE MEASUREMENTS

被引:0
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作者
GOLDNER, RB
QUATIERI, TF
GRIMBERGEN, MN
机构
[1] MIT,LINCOLN LAB,LEXINGTON,MA 02173
[2] HONEYWELL ELECTROPT DIV,LEXINGTON,MA 02173
关键词
D O I
暂无
中图分类号
O43 [光学];
学科分类号
070207 ; 0803 ;
摘要
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页数:5
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