共 2 条
- [1] EFFECT OF TEXTURE AND GRAIN-STRUCTURE ON ELECTROMIGRATION IN AL-0.5-PERCENT CU THIN-FILMSTHIN SOLID FILMS, 1981, 75 (03) : 253 - 259VAIDYA, SSINHA, AK
ELECTROMIGRATION TRANSPORT MOBILITY ASSOCIATED WITH PULSED DIRECT-CURRENT IN FINE-GRAINED EVAPORATED AL-0.5-PERCENT-CU THIN-FILMS
被引：20
|作者：
ENGLISH, AT
KINSBRON, E
机构：
关键词：
D O I：
10.1063/1.331697
中图分类号：
O59 [应用物理学];
学科分类号：
摘要：
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页码：275 / 280
页数：6
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