SENSITIVITY AND NONLINEARITY OF OPTICAL-PATH DIFFERENCE MEASUREMENTS USING TRIPLE-EXPOSURE HETERODYNE HOLOGRAPHIC-INTERFEROMETRY

被引：0

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作者：

WAGNER, JW

机构：

来源：

APPLIED OPTICS | 1986年 / 25卷 / 18期

关键词：

D O I：

10.1364/AO.25.003159

中图分类号：

O43 [光学];

学科分类号：

070207 ; 0803 ;

摘要：

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页码：3159 / 3162

页数：4

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共 2 条

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