It's deja vu all over again

被引：0
|
作者：
Lecklider, T
机构：
来源：
EE-EVALUATION ENGINEERING | 2000年 / 39卷 / 10期
关键词：
Dynamic random access storage - Integrated circuit testing - Mobile telecommunication systems - Storage allocation (computer);
D O I：
暂无
中图分类号：
TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];
学科分类号：
0808 ; 0809 ;
摘要：
The memory test paradigm is on the move. Don't be left behind with yesterday's technology.
引用
收藏
页码：22 / +
页数：5
相关论文
共 50 条
12345