Hard X-ray diffraction scanning tomography with sub-micrometer spatial resolution.

被引：0

作者：

Palancher, Herve ^{[1
]}

Tucoulou, Remi ^{[2
]}

Bleuet, Pierre ^{[3
]}

Bonnin, Anne ^{[1
,2
]}

Cloetens, Peter ^{[2
]}

机构：

[1] CEA, DEN, DEC, F-13108 St Paul Les Durance, France

[2] ESRF, ID22 ID22Ni, F-38043 Grenoble, France

[3] MINATEC, LETI, CEA, F-38054 Grenoble, France

来源：

ACTA CRYSTALLOGRAPHICA A-FOUNDATION AND ADVANCES | 2010年 / 66卷

关键词：

diffraction tomography; 3D-characterization; sub-micrometer resolution;

D O I：

10.1107/S0108767310093001

中图分类号：

O6 [化学];

学科分类号：

0703 ;

摘要：

FA5-MS40-P

引用

页码：S304 / S304

页数：1