Statistical Methods for Reliability Data

被引：0
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作者：
Ng, Hon Keung Tony [1 ]
机构：
[1] Bentley Univ, Dept Math Sci, 175 Forest St, Waltham, MA 02452 USA
来源：
JOURNAL OF QUALITY TECHNOLOGY | 2023年 / 55卷 / 03期
关键词：
D O I：
10.1080/00224065.2023.2165463
中图分类号：
T [工业技术];
学科分类号：
08 ;
摘要：
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页码：386 / 387
页数：2
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