241Am-Be中子源快中子成像研究

被引：3

作者：

蒋诗平 ^{[1
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陈亮 ^{[1
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万里飚 ^{[1
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杜淮江 ^{[2
]}

范扬眉 ^{[2
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韩荣典 ^{[2
]}

机构：

[1] 中国科学技术大学国家同步辐射实验室

[2] 中国科学技术大学近代物理系

来源：

关键词：

241Am-Be中子源; 快中子成像; 无损检测;

D O I：

暂无

中图分类号：

TL816.3 [];

学科分类号：

摘要：

中子成像是一种与X射线成像互补的无损探测技术。为探索同位素中子源用于发展可移动的无损检测系统,利用241Am-Be作为中子源,使用自制的中子发光转换屏和X射线胶片作为探测系统开展了快中子成像研究,并获得了较高质量的图像。研究结果表明,利用241Am-Be中子源发展小型探测系统是有潜力的。

引用

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