双孔离焦成像法齿条测量研究

被引：1

作者：

孔明 ^{[1
]}

茅振华 ^{[2
]}

赵军 ^{[1
]}

刘宇 ^{[1
]}

机构：

[1] 中国计量学院计量测试工程分院

[2] 浙江省计量科学研究院

来源：

光电子激光 | 2012年 / 23卷 / 06期

关键词：

离焦; 双孔; 三维;

D O I：

10.16136/j.joel.2012.06.020

中图分类号：

TG806 [技术测量方法]; TP274 [数据处理、数据处理系统];

学科分类号：

0805 ; 0804 ; 080401 ; 080402 ; 081002 ; 0835 ;

摘要：

提出一种基于双孔离焦成像的三维测量方法。通过在成像光路中加入掩膜版,使离焦物体通过掩膜版后在CCD上成双像,根据双像的相对位置,获得成像物体的空间三维位置。在分析相机成像模型的基础上,推导了离焦成像三维反演方法模型,分析了结构参数对测量精度的影响。搭建了三维测量仪器,对齿条进行测量实验,实验结果表明,本文方法能实现齿条等三维物体的快速,非接触测量,具有较高的测量精度,误差小于2μm。

引用

页码：1130 / 1134

页数：5

共 14 条

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