局部放电下SF分解组分检测与绝缘缺陷编码识别

被引：53
作者：
唐炬
陈长杰
刘帆
张晓星
孟庆红
机构：
[1] 输配电装备及系统安全与新技术国家重点实验室(重庆大学)
来源：
电网技术 | 2011年 / 35卷 / 01期
关键词：
SF6; 绝缘缺陷; 局部放电; 特征组分; 比值编码;
D O I：
10.13335/j.1000-3673.pst.2011.01.018
中图分类号：
TM855 [绝缘的试验与检查];
学科分类号：
080803 ;
摘要：
用SF6分解气体组分含量大小来识别全封闭式组合电器内的绝缘缺陷,须先建立分解气体组分与绝缘缺陷之间的关联法则。利用建立的SF6绝缘气体局部放电分解试验平不同类型绝缘缺陷产生的局部放电下,SF6的分解特性存在台,对4种典型绝缘缺陷进行了大量局部放电试验,发现在明显差异,其组分含量及变化率有特定的规律,为此提出用气体组分含量编码树识别绝缘缺陷的思路和方法,并对SOF2/SO2F2、CF4/CO2和(SOF2+SO2F2)/(CO2+CF4)3组气体组分含量比值范围进行了编码,建立了相应的比值编码树,得到了识别4种绝缘缺陷类型的编码组合,并针对组分含量编码处于交叉无法确定的情况,给出了最终确定编码依据的辅助方法。
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页数：7
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