Ba(Mg1／3Ta2／3)O3微波陶瓷的损耗研究

本工作用ＸＲＤ，ＥＰＭＡ，ＳＥＭ等测试技术计算和示出了用不同活性粉料制备的Ｂａ（Ｍｇ＿（１／３）Ｔａ＿（２／３））Ｏ＿３微波陶瓷晶格中Ｂ位离子有序度和元素的面分布情况，对它们在Ｘ波段下的介电行为作了探讨。实验结果表明，ＢＭＴ陶瓷的微波损耗主要与其密度、有序度和微观结构的均一度有关。