一种有效的孤岛检测盲区描述方法

孤岛检测盲区是判断检测算法优劣的重要标准,只有对盲区进行合理的描述,才能有效揭示孤岛检测算法的适用范围,但负载的多样性增加了这种描述的难度。针对该问题,提出一种盲区描述方法,它把检测盲区映射到由品质因数和负载电容组成的平面上,能弥补其他盲区描述方法在指导工程实践上的不足,并以主动移频式孤岛检测方法(AFD)和带正反馈的主动移频式孤岛检测方法(AFDPF)为例对算法的检测盲区进行了描述。结果显示,该方法能对孤岛检测算法的性能进行完整、准确的描述,而且能直接指导试验验证。