H-450 X射线参考辐射质的研建及验证

被引：0

作者：

杭仲斌 ^{[1
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王红玉 ^{[1
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杨静 ^{[1
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刘川凤 ^{[2
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滕忠斌 ^{[1
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徐阳 ^{[1
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韦凯迪 ^{[1
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耿璇 ^{[1
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张昕宇 ^{[1
]}

魏可新 ^{[1
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宋明哲 ^{[1
]}

机构：

[1] 中国原子能科学研究院计量与校准技术重点实验室

[2] 中国计量科学研究院

来源：

宇航计测技术 | 2022年 / 42卷 / 03期

关键词：

X射线; 参考辐射; 外推法; 辐射质; 半值层; MCNP5;

D O I：

暂无

中图分类号：

TL816.1 [];

学科分类号：

摘要：

根据PTB和ISO 4037-1:2019要求，关于高空气比释动能系列（H系列）X射线参考辐射质的推荐数据，外推得出H-450的附加过滤为6.24 mm Cu,第一半值层(HVL1st)为（5.39～5.52）mm Cu,平均光子能量为（214.25～214.78）keV,剂量率为11.51 Gy/h（距离焦斑为1 m处，管电流为10 mA）。随后，使用PTW32005电离室作为测量器具，采用半值层法建立H-450 X射线参考辐射质，得出HVL1st为5.37 mm Cu,第二半值层(HVL2nd)为5.97 mm Cu,同质系数为0.9。最后，使用PTW30013次级标准电离室测量得出H-450 X射线参考辐射质下距离焦斑1 m,管电流为10 mA时的剂量率值为11.98 Gy/h,与理论值的相对误差为4.07%。采用MCNP 5软件对H-450 X射线参考辐射质进行能谱模拟并计算得出其平均光子能量为200.4 keV。

引用

页码：30 / 35

页数：6

共 11 条

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