基于扫描成像的作物近地高光谱获取与特征分析

被引：6

作者：

张东彦 ^{[1
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黄文江 ^{[1
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王纪华 ^{[1
,2
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杨贵军 ^{[1
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朱大洲 ^{[1
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刘源 ^{[1
]}

马智宏 ^{[1
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机构：

[1] 国家农业信息化工程技术研究中心

[2] 浙江大学农业遥感与信息技术应用研究所

来源：

农业工程学报 | 2010年 / 26卷 / 12期

关键词：

光谱测定法; 作物; 特征提取; 扫描成像光谱仪; 小麦; 玉米;

D O I：

暂无

中图分类号：

S127 [遥感技术在农业上的应用];

学科分类号：

082804 ;

摘要：

为了验证自主研制的扫描成像光谱仪(PIS)在近地应用的可行性,该文以小麦、玉米为研究对象,利用PIS近地获取作物冠层和叶片的高光谱图像,在对田间和室内获得的成像数据进行对比分析的同时,探讨了成像光谱采集过程中的影响因素。此外,将PIS获取的成像高光谱与地物光谱仪(ASD)测定的高光谱进行比对研究。结果表明:PIS能准确收集作物的光谱信息,且采集的高光谱数据与ASD具有很好的一致性;PIS在田间采集作物光谱信息时,受氧气吸收的影响,在760nm处有明显的干扰吸收;PIS除了能反映作物不同叶位叶片、不同器官光谱的差异,还可依据影像提取杂草、土壤对作物冠层光谱的影响程度。上述初步结果为进一步应用PIS进行农作物长势诊断提供了参考。

引用

页码：188 / 192

页数：5

共 16 条

[1] 冬小麦叶绿素含量高光谱检测技术 [J].