TEST FIXTURES FOR FREQUENCIES FROM DC TO 75 GHZ.

被引:0
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作者
Lang, R.J. [1 ]
Jewett, W.P. [1 ]
Merrill, J.D. [1 ]
机构
[1] GE, Syracuse, NY, USA, GE, Syracuse, NY, USA
来源
| 1600年 / 31期
关键词
D O I
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