TRANSIENT MODE SOFT FAIL EMITTER-COUPLED LOGIC BIPOLAR STATIC CELL TEST SITE.

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机构：
来源：
IBM technical disclosure bulletin | 1984年 / 27卷 / 06期
关键词：
Compendex;
D O I：
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摘要：
SEMICONDUCTOR MATERIALS - Charge Carriers
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页码：3318 / 3319
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