A 28nm All-Digital Droop Detection and Mitigation Circuit Using A Shared Dual-Mode Delay Line with 14.8% Vmin Reduction and 42.9% Throughput Gain

被引：0

作者：

Kang, Minyoung ^{[1
]}

Kim, Sunghoon ^{[1
]}

Park, Youngmin ^{[1
]}

Jeong, Sangsu ^{[1
]}

Jeon, Dongsuk ^{[1
]}

机构：

[1] Seoul Natl Univ, Seoul, South Korea

来源：

基金：

新加坡国家研究基金会;

关键词：

D O I：

10.1109/CICC60959.2024.10528973

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页数：2