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- [1] APPAREILLAGES DE MESURE DE LA CONDUCTIVITE THERMIQUE DES SEMI-CONDUCTEURS .1. GENERALITES - METHODE DES FLUXMETRESJOURNAL DE PHYSIQUE ET LE RADIUM, 1962, 23 (03): : A15 - A20WEILL, G
- [2] LA MESURE DE LA CONDUCTIVITE THERMIQUE DES CONDUCTEURS A HAUTE TEMPERATUREJOURNAL DE PHYSIQUE ET LE RADIUM, 1961, 22 (06): : A115 - A120MARTINET, J
- [3] DISPOSITIF DE MESURE DU COEFFICIENT PELTIER ET DE LA CONDUCTIVITE THERMIQUE DES METAUX ET SEMI-CONDUCTEURSCOMPTES RENDUS HEBDOMADAIRES DES SEANCES DE L ACADEMIE DES SCIENCES, 1964, 259 (05): : 1031 - &MACQUERON, JLSINICKI, GBERNARD, R
- [4] CONDUCTIVITE THERMIQUE DES SEMI-CONDUCTEURSCOMPTES RENDUS HEBDOMADAIRES DES SEANCES DE L ACADEMIE DES SCIENCES, 1955, 241 (17): : 1121 - 1122THUILLIER, JM
- [5] CONDUCTIVITE THERMIQUE DES SEMI-CONDUCTEURSCOMPTES RENDUS HEBDOMADAIRES DES SEANCES DE L ACADEMIE DES SCIENCES, 1956, 242 (22): : 2633 - 2634THUILLIER, JM
- [6] SEMI-CONDUCTEURS - EFFET DES NEUTRONS RAPIDES SUR LA CONDUCTIVITE THERMIQUE DU GERMANIUMCOMPTES RENDUS HEBDOMADAIRES DES SEANCES DE L ACADEMIE DES SCIENCES, 1963, 256 (08): : 1722 - &VANDONG, NTUNG, PNVANDEVYVER, M
- [7] LA MESURE DE LA CONDUCTIVITE THERMIQUE A TRES HAUTES TEMPERATURES PAR LA METHODE DU CYLINDREBULLETIN DE LA SOCIETE FRANCAISE DE CERAMIQUE, 1965, (69): : 89 - &DUMEZ, PPROVOST, GLECRIVAI.L
- [8] APPAREILLAGES DE MESURE DE LA PIEZORESISTANCE DES SEMICONDUCTEURSREVUE DE PHYSIQUE APPLIQUEE, 1967, 2 (03): : 197 - &WEILL, G
- [9] SEMI-CONDUCTEURS - MESURE DE LA DUREE DE VIE DE QUELQUES ECHANTILLONS DE SILICIUM NCOMPTES RENDUS HEBDOMADAIRES DES SEANCES DE L ACADEMIE DES SCIENCES, 1963, 256 (19): : 3998 - &VAPAILLE, A
- [10] LA MESURE DU TEMPS DE VIE DES PORTEURS MINORITAIRES DANS LES SEMI-CONDUCTEURSCOMPTES RENDUS HEBDOMADAIRES DES SEANCES DE L ACADEMIE DES SCIENCES, 1960, 251 (13): : 1275 - 1276DEKINDER, WVENNIK, J