APPLICATION OF REFLECTION MASS-SPECTROMETRY TO MOLECULAR-BEAM EPITAXIAL-GROWTH OF INALAS AND INGAAS

被引:13
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作者
BRENNAN, TM
TSAO, JY
HAMMONS, BE
KLEM, JF
JONES, ED
机构
来源
JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY B | 1989年 / 7卷 / 02期
关键词
D O I
10.1116/1.584733
中图分类号
TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
0808 ; 0809 ;
摘要
引用
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页码:277 / 282
页数:6
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