SUBMILLIMETER CYCLOTRON-RESONANCE STUDIES OF INVERSION LAYERS AT LOW ELECTRON-DENSITY

被引:10
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作者
WAGNER, RJ [1 ]
TSUI, DC [1 ]
机构
[1] BELL TEL LABS INC,MURRAY HILL,NJ 07974
关键词
D O I
10.1016/0304-8853(79)90227-0
中图分类号
T [工业技术];
学科分类号
08 ;
摘要
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