NEW CLASS OF BOUNDS ON BAYES RISK IN MULTIHYPOTHESIS PATTERN-RECOGNITION

被引：45
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作者：
DEVIJVER, PA [1 ]
机构：
[1] MANUFACTURE BELGE LAMPES & MAT ELECTR SA,RES LAB,BRUSSELS,BELGIUM
来源：
IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTERS | 1974年 / C 23卷 / 01期
关键词：
D O I：
10.1109/T-C.1974.223779
中图分类号：
TP3 [计算技术、计算机技术];
学科分类号：
0812 ;
摘要：
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页码：70 / 80
页数：11
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