SELECTIVE MICROSCALE X-RAY-FLUORESCENCE ANALYZING METHOD FOR DETERMINATION OF TRACE-ELEMENTS

被引:4
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作者
PUUMALAINEN, P [1 ]
SUOMINEN, P [1 ]
HATTULA, J [1 ]
KALM, H [1 ]
机构
[1] UNIV JYVASKYLA, DEPT PHYS, JYVASKYLA, FINLAND
关键词
D O I
10.1016/0020-708X(73)90087-2
中图分类号
TL [原子能技术]; O571 [原子核物理学];
学科分类号
0827 ; 082701 ;
摘要
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页数:4
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